半導体向け検査装置のほか、フィルム外観検査装置などを出展！

●ウェーハ表面検査装置(WMシリーズ)
半導体デバイスの製造、材料開発、装置管理に欠かせない検査システムです。ナノレベルのパーティクル(異物)を検出することが可能で、歩留まり管理などの品質保証のため、1985年に発売、現在も国内外にて数多く使用していただいております。
URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/wm/

●ウェーハ外観検査装置(Viシリーズ)
ウェーハの配線パターンやクラック、異物混入などを高精度に検査します。ウェーハサイズ・デバイス・欠陥等の種類・検査速度に応じて、6種類のラインナップからご提案できます。
URL： https://www.takano-kensa.com/kensa/products/semiconductor/pattern/

SEMICON Japan 2022

開催日程　 ： 2022年12月14日(水)～16日(金)
開催時間　 ： 10:00～17:00
開催場所　 ： 東京ビッグサイト(東展示棟)
ブース番号 ： 2840(東1・2・3ホール)
公式HP　　： https://www.semiconjapan.org/jp

ご来場の際には、事前登録(無料)が必要です。
来場者事前登録サイトよりお申し込みください。
▽来場者事前登録サイトはこちら
https://www.semiconjapan.org/jp/about/pricing-and-register